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如何计算信号隔离器预计使用寿命
发布人:管理员   发布时间:2021-10-8
  信号隔离器的预计使用寿命由经时击穿决定,其为一种二氧化硅等电介质材料的重要故障模式。由于制造带来的杂质和不完整性缺陷,电介质会随时间而退化。这种退化会由于电介质上施加的电场及其温度的上升而加快。预计使用寿命的确定是基于TDDB E模型,其为一种广受认可的电介质击穿模型。
  实际上,周围温度维持在150oC时,TDDB由信号隔离器的施加应力电压决定。测试之初便激活一个计时器,其在信号隔离器电流超出1mA时停止,表明电介质击穿。记录每个测试电压的故障时间,并根据理论E模型曲线进行绘图。
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